檢測內(nèi)容

x-射線能譜儀檢測報告如何辦理？檢測項目及標(biāo)準有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴格按照x-射線能譜儀檢測相關(guān)標(biāo)準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及x- 射線能譜儀的標(biāo)準有40條。

國際標(biāo)準分類中，x- 射線能譜儀涉及到分析化學(xué)、長度和角度測量、核能工程、輻射測量、光學(xué)和光學(xué)測量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量。

在中國標(biāo)準分類中，x- 射線能譜儀涉及到木材竹材防腐、基礎(chǔ)標(biāo)準與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、核儀器與核探測器綜合、通用核儀器、電子測量與儀器綜合。

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準化管理委員會，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

GB/T 40196-2021X射線熒光能譜儀測定防腐木材和木材防腐劑中CCA和ACQ的方法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準化管理委員會，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

GB/T 20726-2015微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

GB/T 25184-2010X射線光電子能譜儀鑒定方法

GB/T 22571-2008表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準

GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)的線性

GB/T 20726-2006半導(dǎo)體探測器X射線能譜儀通則

GB/T 11685-2003半導(dǎo)體X射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀的測量方法

德國標(biāo)準化學(xué)會，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

DIN ISO 16129-2020表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

ASTM E1217-11(2019)用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準實踐

ASTM E2108-16X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準實踐

ASTM E1217-11用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準實踐

ASTM E2108-10X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準實踐

ASTM E1217-05用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準實踐

ASTM E2108-05X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準實踐

ASTM E2108-00X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準實踐

ASTM E1217-00用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準實踐

ASTM E902-94(1999)檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準實施規(guī)程

國際標(biāo)準化組織，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

ISO 16129-2018表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法

ISO 16129:2012表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；X射線光電子能譜儀日常性能評估程序

ISO 16129-2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程

ISO 15472:2010表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀——能量標(biāo)度的校準

ISO 21270:2004表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀——強度標(biāo)度線性

ISO 21270-2004表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性

英國標(biāo)準學(xué)會，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

BS ISO 16129-2012表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程

韓國標(biāo)準，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

KS C IEC 60759-2009半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準試驗程序

KS C IEC 60759-2009半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準試驗程序

KS D ISO 21270-2005表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性

KS D ISO 21270-2005表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性

，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

SIS SS IEC 759-1986核檢測儀表．半導(dǎo)體X射線能譜儀檢測程序

行業(yè)標(biāo)準-電子，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

SJ/T 10714-1996檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準方法

國際電工委員會，關(guān)于x- 射線能譜儀的標(biāo)準

IEC 60759:1983/AMD1:1991修改件1——半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準試驗程序

IEC 60759-1983/AMD1-1991修改件1——半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準試驗程序

IEC 60759 AMD 1-1991半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準試驗程序 修改1

IEC 60759:1983半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準測試程序

IEC 60759-1983半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準試驗程序

檢測時間周期

一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)x-射線能譜儀檢測項目而定。

檢測報告有效期

一般x-射線能譜儀檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。

檢測流程

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