高純硅/半導體材料檢測
檢測內(nèi)容
檢測報告圖片模板
檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法/GB/T 18907-2013 | 高純硅/半導體材料 | 選區(qū)電子衍射 |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)高純硅/半導體材料檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般高純硅/半導體材料檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程
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