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光譜表面分析檢測檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)匯總

2025-01-07

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涉及光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)有20條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,光譜 表面 分析涉及到分析化學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,光譜 表面 分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 18554-2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評估和修正程序

BS PD ISO/TS 18507-2015表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用

BS PD ISO/TS 18507-2015表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用

BS ISO 18118-2015表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感性系數(shù)的使用指南

BS ISO 13424-2013表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表

BS ISO 13424-2013表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表

BS ISO 18118-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感性系數(shù)的使用指南

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 18554:2016表面化學(xué)分析.電子光譜法.用X射線光電子能譜法分析的材料中X射線非預(yù)期降解的評定和校正程序

ISO 18554-2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評估和修正程序

ISO/TS 18507:2015表面化學(xué)分析 - 全反射X射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用

ISO/TS 18507-2015表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用

ISO 18118-2015表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感性因子的使用指南

ISO 13424-2013表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表

ISO 18118-2004表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感性因子的使用指南

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K0167-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感因子的使用指南

韓國標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 18118-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感性因子的使用指南

KS D ISO 18118-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對敏感性因子的使用指南

,關(guān)于光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)

ONORM M 6253 Teil.1-1985水質(zhì)分析.亞甲藍(lán)光譜法測定陰離子表面活化劑

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì),關(guān)于光譜 表面 分析的標(biāo)準(zhǔn)

AS ISO 18118-2006表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法.均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測定的相對靈敏系數(shù)使用指南

AS ISO 19319-2006表面化學(xué)分析.Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法.分析員對橫向分辨率;分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測

檢測流程

檢測流程

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