標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)描述了紅外硫系光學(xué)薄膜（以下簡稱“薄膜”）折射率的測試原理、測試條件、儀器設(shè)備、樣品、測試步驟、數(shù)據(jù)處理與折射率計(jì)算、計(jì)算精度和測試報(bào)告。本標(biāo)準(zhǔn)適用于紅外硫系光學(xué)薄膜折射率的測試，其他光學(xué)薄膜折射率的測試可參照使用。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 40293-2021

標(biāo)準(zhǔn)名稱：紅外硫系光學(xué)薄膜折射率測試方法

英文名稱：Test method for refractive index of infrared optical chalcogenide films

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2021-08-20

實(shí)施日期：2022-03-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>儀器、儀表綜合>>N05儀器、儀表用材料和元件

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：計(jì)量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測量>>17.180.01光學(xué)和光學(xué)測量綜合

起草單位：寧波大學(xué)、湖北新華光信息材料有限公司、中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、中國建筑材料科學(xué)研究總院、鳳凰光學(xué)股份有限公司、蘇州晶鼎鑫光電科技有限公司、道明光學(xué)股份有限公司

歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。