標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 11685-1989

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體X射線能譜儀的測(cè)試方法

英文名稱：Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1989-10-14

實(shí)施日期：1990-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測(cè)器>>F80核儀器與核探測(cè)器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.240輻射測(cè)量

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 11685-2003代替

檢測(cè)流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測(cè)內(nèi)容請(qǐng)咨詢客服。