標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測試薄膜壓入硬度和彈性模量的儀器化納米壓入試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于附著在固體表面的薄膜。壓入方向為垂直于試樣表面方向,壓入深度范圍通常在納米量級,也可以擴(kuò)展至幾微米。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 25898-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：儀器化納米壓入試驗方法　薄膜的壓入硬度和彈性模量

英文名稱：Instrumented nanoindentation test—Indentation hardness and modulus of thin film

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-01-10

實施日期：2011-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：綜合>>基礎(chǔ)學(xué)科>>A42物理學(xué)與力學(xué)

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗>>19.060機(jī)械試驗

起草單位：王秀芳、張?zhí)┤A、宋洪偉、楊曉萍、楊榮、郇勇

歸口單位：全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 279)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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