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GB/T5238-2019鍺單晶和鍺單晶片

2024-12-09

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍺單晶和鍺單晶片的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存、質(zhì)量證明書及訂貨單(或合同)內(nèi)容。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于制備半導(dǎo)體器件、激光器組件、紅外光學(xué)部件用的鍺單晶和鍺單晶片。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 5238-2019

標(biāo)準(zhǔn)名稱:鍺單晶和鍺單晶片

英文名稱:Monocrystalline germanium and monocrystalline germanium slices

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2019-06-04

實(shí)施日期:2020-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H82元素半導(dǎo)體材料

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 5238-2009

起草單位:中鍺科技有限公司、云南臨滄鑫圓鍺業(yè)股份有限公司、廣東先導(dǎo)稀材股份有限公司、有色金屬技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究院、北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

歸口單位:全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 203)、全

發(fā)布單位:國家市場監(jiān)督管理總局.

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請(qǐng)咨詢客服。

GB/T5252-1985鍺單晶位錯(cuò)腐蝕坑密度測量方法
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