標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線光電子能譜儀的檢定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用非單色化Al或MgX射線或單色化AlX射線,且?guī)в袨R射清潔用離子槍的X射線光電子能譜儀的檢定。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 25184-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：X射線光電子能譜儀檢定方法

英文名稱：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2010-09-26

實施日期：2011-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析

起草單位：福建光電有限公司、廈門大學(xué)固體表面物理化學(xué)國家重點實驗室

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會表面分析分委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。