標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 2424.6-1981

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

實(shí)施日期：1982-04-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 2423.8-1995代替

檢測(cè)流程

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