標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)分兩種方法。第一種方法通常是用來(lái)模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由跌落，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來(lái)模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過(guò)使用合適的設(shè)備，例如（旋轉(zhuǎn)）滾筒來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.8-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落

英文名稱(chēng)：Environmental testing for electric and electronic products Part 2:Test methods Test Ed:Free fall

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1995-08-02

實(shí)施日期：1996-08-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB 2423.8-1981 GB 2424.6-1981;被GB/T 2423.7-2018代替

起草單位：環(huán)標(biāo)委第二工作組

歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程

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