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GB/T24369.3-2017金納米棒表征第3部分:表面電荷密度測量方法

2024-11-26

標(biāo)準(zhǔn)簡介:規(guī)定了用zeta電位測量金納米棒表面電荷密度的方法

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 24369.3-2017

標(biāo)準(zhǔn)名稱:金納米棒表征 第3部分:表面電荷密度測量方法

英文名稱:Characterization of gold nanorods—Part 3:Measurement method of surface charge density

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2017-07-31

實(shí)施日期:2018-02-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):儀器、儀表>>儀器、儀表綜合>>N04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):計(jì)量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量>>17.220.20電和磁量值的測量

起草單位:國家納米科學(xué)中心

歸口單位:全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。

GB/T2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則
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