標準簡介：本部分提供了由低溫、低氣壓和濕熱組成的標準環(huán)境試驗程序。首先低溫和低氣壓結(jié)合在一起，其次升溫，然后與濕熱條件結(jié)合在一起。本試驗應用了試驗A和試驗M。雖然未完全按照試驗D引入濕度，但用“Z/AMD”來表示本試驗最恰當和最具提示性。本試驗用于飛行器所使用的器件和設備，特別是在非加熱和非增壓部位的器件和設備。

標準號：GB/T 2423.27-2005

標準名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗

英文名稱：Environmental testing for electric and electronic products?Part 2:

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2005-08-26

實施日期：2006-04-01

中國標準分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標準：替代GB/T 2423.27-1981;被GB/T 2423.27-2020代替

起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所

歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。