標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測(cè)定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標(biāo)準(zhǔn)采用的計(jì)算方法是近似函數(shù)法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應(yīng)變一般不大于0.1%的納米材料。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 23413-2009

標(biāo)準(zhǔn)名稱：納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定 X射線衍射線寬化法

英文名稱：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2009-04-01

實(shí)施日期：2009-12-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>試驗(yàn)機(jī)與無損探傷儀器>>N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：試驗(yàn)>>19.100無損檢測(cè)

起草單位：鋼鐵研究總院、首鋼技術(shù)研究院

歸口單位：全國微束標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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