標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器的電參數(shù)測(cè)試。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14115-1993

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理

英文名稱：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1993-01-21

實(shí)施日期：1993-08-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

起草單位：上海件五廠

歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程

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