標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器的電參數(shù)測試。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 14114-1993

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理

英文名稱：General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1993-01-21

實(shí)施日期：1993-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

起草單位：上海件五廠

歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。