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GB/T12085.2-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱

2023-09-01

標準簡介:本部分規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。本試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。

標準號:GB/T 12085.2-2010

標準名稱:光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱

英文名稱:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 2:Cold,heat,humidity

標準類型:國家標準

標準性質(zhì):推薦性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2011-01-14

實施日期:2011-05-01

中國標準分類號(CCS):儀器、儀表>>光學儀器>>N30光學儀器綜合

國際標準分類號(ICS):成像技術>>37.020光學設備

替代以下標準:替代GB/T 12085.2-1989

起草單位:寧波永新光學股份有限公司、上海理工大學

歸口單位:全國光學和光子學標準化技術委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。

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