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GB/T15877-1995蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

2023-09-01

標準簡介:本規(guī)范規(guī)定了半導體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架的技術要求及檢驗規(guī)則。本規(guī)范適用于半導體集成電路塑料雙列封裝引線框架,其他封裝形式引線框架也可參照使用。

標準號:GB/T 15877-1995

標準名稱:蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

英文名稱:Specification of DIP leadframes produced by etching

標準類型:國家標準

標準性質:推薦性

標準狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1995-01-02

實施日期:1996-08-01

中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術>>微電路>>L55微電路綜合

國際標準分類號(ICS):電子學>>31.200集成電路、微電子學

替代以下標準:被GB/T 15877-2013代替

起草單位:寧波集成電路件廠

歸口單位:全國半導體器件標準化技術委員會

發(fā)布單位:國家技術監(jiān)督局

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內容僅供參考,更多其他檢測內容請咨詢客服。

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