標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子背散射衍射分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝了電子背散射衍射附件的電子束顯微分析儀進(jìn)行物相的鑒定、晶體取向、顯微織構(gòu)以及晶界特性等方面的分析。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 19501-2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：電子背散射衍射分析方法通則

英文名稱(chēng)：General guide for electron backscatter diffraction analysis

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2004-04-30

實(shí)施日期：2004-12-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 19501-2013代替

起草單位：寶鋼股份公司技術(shù)中心

歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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