GB/T41397—2022生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量控
2023-09-04
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 37143-2018
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)方法
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)的一般性描述、激發(fā)應(yīng)力的確定、試驗(yàn)裝置要求以及具體實(shí)施方法、故障的處理方法及成熟度評(píng)價(jià)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于為提高與評(píng)價(jià)電工電子產(chǎn)品成熟度而開(kāi)展的環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)。
英文名稱(chēng):Maturity testing for electric and electronic products
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:2018-12-28
實(shí)施日期:2019-07-01
出版語(yǔ)種:中文簡(jiǎn)體
標(biāo)準(zhǔn)ICS號(hào):19.040
中標(biāo)分類(lèi)號(hào):K04
提出部門(mén):全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
發(fā)布部門(mén):國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
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