位錯密度檢測范圍

砷化鎵晶體，藍寶石，45鋼，硅片，納米材料，淬火件，冷軋銅，鑄鈦合金，鈦合金，鋁合金，

位錯密度檢測項目

XRD位錯密度檢測，位錯密度測量等。

檢測報告有哪些用途?

1、銷售使用。

2、研發(fā)使用。

3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。

4、科研論文數(shù)據(jù)使用。

5、質(zhì)量控制使用。

位錯密度檢測標準

GB/T 5252-2020鍺單晶位錯密度的檢測方法

GB/T 8760-2006砷化鎵單晶位錯密度的測量方法

GB/T 32282-2015氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰*熒光顯微鏡法

GB/T 33763-2017藍寶石單晶位錯密度測量方法

GB/T 34481-2017低位錯密度鍺單晶片腐蝕坑密度的測量方法

SJ/T 10557.3-1994電解電容器用鋁箔平均位錯密度測量方法

SJ/T 11489-2015低位錯密度磷化銦拋光片蝕坑密度的測量方法

SJ/T 11490-2015低位錯密度砷化鎵拋光片蝕坑密度的測量方法

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。