半導體可控硅檢測需要根據(jù)標準內(nèi)指定項目、方法進行，GB國標、行標、外標、企標、地方標準。半導體可控硅檢測樣品檢測報告結果會與標準中要求對比，在報告中體現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量。第三方檢測機構可提供半導體可控硅檢測一站式服務，工程師一對一服務，確認需求、推薦方案、寄樣送檢、出具報告、售后服務，3-15工作日出具報告，歡迎咨詢半導體可控硅檢測服務

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日，可加急（特殊樣品除外）

報告樣式：電子版、紙質(zhì)，中、英文均可。

報告資質(zhì)：CMA、CNAS

半導體可控硅檢測項目：

檢測項目：

低溫檢測、反向峰值電流IRRM、擎住電流IL、斷態(tài)峰值電流IDRM、維持電流IH、通態(tài)峰值電壓VTM、通態(tài)斜率電阻Rt、門*觸發(fā)直流電壓VGT、門*觸發(fā)直流電流IGT、高溫反偏試驗、高溫檢測

半導體可控硅檢測標準：

檢測標準：

1、GB/T15291-2015 半導體器件 第 第6部分 晶閘管 9.1.2、9.1.3、 9.1.4、 9.1.5、 9.1.6、 9.1.7

2、GB/T 15291-2015 半導體器件 第 第6部分 晶閘管 GB/T15291-2015

3、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 1040

百檢檢測服務流程

1. 樣品提供：客戶提供待檢測樣品，并擬定檢測方案;

2. 樣品接收：實驗室收到樣品后進行核查并錄入樣品信息;

3. 樣品處理：將樣品進行必要的前處理，確保檢測結果的準確性;

4. 檢測分析：利用適當?shù)奈锢怼⒒瘜W或生物學方法對樣品進行檢測，保證檢測的覆蓋率和準確度;

5. 結果報告：按照檢測方案，將檢測結果用簡要、準確的方式告知客戶并提供詳細的檢測報告。

檢測報告用途：

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標、高?？蒲械取?/P>

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檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。