掠入射XRD分析需要注意些什么?檢測標(biāo)準(zhǔn)有哪些?費用是多少?百檢檢測可依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗方案。對樣品進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測報告。

項目簡介

常規(guī)XRD采用的是X射線直射樣品，由于X射線的穿深較大，對有基底的薄膜樣品，薄膜的峰經(jīng)常被基底的峰掩蓋。掠入射采用與樣品近似平行的入射角度，使X射線僅照射在樣品表面，著重關(guān)注薄膜樣品的信號，規(guī)避基底信號。

適用樣品

待測樣品表面需光滑且平整，檢測區(qū)域不要有遮擋。長寬尺寸建議在20*10mm以內(nèi)。

相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1613-2017 掠入射X射線反射膜厚測量儀器校準(zhǔn)規(guī)范

GB/T 36655-2018 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的檢測方法 XRD法

辦理檢測報告的目的

1、評定產(chǎn)品質(zhì)量的好壞;

2、判斷產(chǎn)品質(zhì)量等級，即缺陷嚴(yán)重程度;

3、對工藝流程進(jìn)行檢驗和工序質(zhì)量的監(jiān)督;

4.對質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行搜集統(tǒng)計與分析，以便為質(zhì)量改進(jìn)與質(zhì)量管理活動的開展奠定基礎(chǔ);

檢測流程

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