參考答案：

半導體檢測的檢測系統(tǒng)稱為ATE，由電子電路和機械硬件組成，是由同一個主控制器指揮下的電源、計量儀器、信號發(fā)生器、模式的合體，用于模仿被測器件將會在應用中體驗到的操作條件，以發(fā)現(xiàn)不合格的產(chǎn)品。

檢測系統(tǒng)硬件由運行一組指令(檢測程序)的計算機控制，在半導體檢測時提供合適的電壓、電流、時序和功能狀態(tài)給DU檢測的結(jié)果和預先設定的界限，做出相應的判斷。

半導體檢測的檢測程序的目的是控制檢測系統(tǒng)硬件以相應的方式保障被測器件達到或超過它的那些被具體定義在器件規(guī)格書里的程序通常分為幾個部分，如DC檢測、功能檢測、AC檢測等。DC檢測驗證電壓及電流參數(shù);功能檢測驗證芯片內(nèi)AC檢測，以保障芯片能在特定的時間約束內(nèi)完成邏輯操作。

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。